FA8失效分析探針臺是專為失效分析實驗室設計的一款量測設備,具光學特性、激光特性,設備結構穩定,系統性能優異,人體工程學設計,操作便捷,支持多功能升級,產品功能豐富齊全
FA8失效分析探針臺
產品概要
FA8失效分析探針臺是專為失效分析實驗室設計的一款量測設備,具光學特性、激光特性,設備結構穩定,系統性能優異,人體工程學設計,操作便捷,支持多功能升級,產品功能豐富齊全。
產品型號 | FA8 | 工作環境 | 開放式 |
電力需求 | 220VC,50~60Hz | 操控方式 | 手動探針臺 |
產品尺寸 | 960mm長*850mm寬*1500mm高 | 設備重量 | 約260KG |
常溫和高低溫環境下的芯片失效分析、射頻特性器件失效分析、材料/器件的IV/CV特性測試及失效分析、芯片內部線路/電極/PAD測試、IC/面板內部線路修改/去層