C12高低溫探針臺

產品概要

C12高低溫探針臺具有優異的機械系統，結構性能穩定，人體工程學設計，操作便捷，支持多功能升級，功能豐富全面。該產品主要應用于集成電路，LED，LCD，太陽能電池，半導體行業的制造和研究領域。

基本信息

應用方向

高低溫環境下，LD/LED/PD測試，PCB/封裝器件測試，材料/器件的IV/CV特性測試、0.2微米以上芯片內部線路/電極/PAD測試、高頻、射頻測試等

技術特點

產品特點

> 創新的氣動式卡盤XY移動平臺 滿足客戶對整塊晶圓的測試需要；提供3種快速移動方式 >三段式升降針座平臺 針座平臺具有用于晶圓接觸，分離（300μm）和裝載的三段升降功能，帶有安全鎖裝置，可防止探頭或晶圓意外損壞的同時，確保精準的接觸定位 >先進的3ZOOM?成像技術 在圖像中能觀察到3種倍率的成像效果，無需進行倍率和鏡頭切換 >密閉腔結構設計 屏蔽外部電信干擾，提供更低噪聲和漏電流環境，同時保持氮或正壓環境下樣品低溫無結霜，獨特的腔體吹氣結構，防止低溫結霜現象